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影響涂層測(cè)厚儀的測(cè)量因素
日期：2025-07-27 17:53
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摘要：
影響涂層測(cè)厚儀的測(cè)量因素:
涂層 測(cè)厚儀 在測(cè)量物體時(shí) , 除測(cè)量方法外 , 還會(huì)有其他因數(shù)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果有所偏差 , 具體影響因數(shù)請(qǐng)看下表 .
涂層 測(cè)厚儀 影響測(cè)量的因素對(duì)照表 :
測(cè)量方式法 | 磁性測(cè)量 | 渦流測(cè)量 |
基體金屬磁性質(zhì) | * |
|
基體金屬電性質(zhì) |
| * |
邊緣效應(yīng) | * | * |
曲率 | * | * |
試件粗糙度 | * | * |
磁場(chǎng) | * |
|
附著物質(zhì) | * | * |
測(cè)頭壓力 | * | * |
測(cè)頭取向 | * | * |
基體金屬厚度 | * | * |
試件的形狀 | * | * |
